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產品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
人工晶狀體中心厚度測量儀（低測力）產品特點：
探針自動上下，可由按鈕控制或腳踏開關（選配）控制
人工晶狀體中心厚度測量儀（低測力）可選配：
RS232電腦通訊接口
數據采集軟件
校準套件（測厚+測力）
腳踏開關
技術參數：
測量范圍：0-1999微米
測量分辨率和重復性：1微米
測量精度：±2微米（±1微米加上±1微米四舍五入）
探針測力：可調整，出廠設置為約0.5gm
標準測座：直徑12.7mm，平面
顯示：3.5位0.75吋液晶屏，每秒刷新3次
調零：旋鈕調整約±15微米
測頭：2.3mm直徑頂部平整拋光
電源：220VAC，50Hz，5VA
輸出：25針RS232電腦端口（選配）
環境：15~30℃，大90%相對濕度
